Teseq, NSG 4070D, HF Generator 4 kHz - 1 GHz

In der heutigen vernetzten Welt müssen elektronische Geräte selbst in anspruchsvollen Umgebungen zuverlässig funktionieren. Der Teseq NSG 4070D ist der Nachfolger des NSG 4070 C1 die Komplettlösung für die Prüfung der Störfestigkeit elektronischer Systeme gegenüber leitungsgeführten Hochfrequenzstörungen.

Ob durch drahtlose Geräte verursachte Störungen in der Nähe von Stromkabeln oder elektromagnetische Beeinflussungen in Fahrzeugen – der NSG 4070D gewährleistet höchste Zuverlässigkeit und Einhaltung internationaler Normen. Entwickelt für Entwicklungstests und Konformitätsprüfungen, eignet sich das Gerät ideal für Anwendungen in Automobilindustrie, Luft- und Raumfahrt sowie Unterhaltungselektronik.

Der Teseq NSG 4070D ist ein vielseitiger EMV-Testgenerator, der mit integriertem Signalgenerator, Leistungsmessern und flexiblen Verstärkeroptionen ausgestattet ist. Das Gerät kann eigenständig betrieben oder über LAN, RS232 oder USB ferngesteuert werden. Dank seiner modularen Struktur unterstützt der NSG 4070D eine breite Palette an internationalen Normen wie IEC/EN 61000-4-6, ISO 11452-4 oder MIL-STD-461G.

Produkt-Highlights

✔ Umfassende Normenunterstützung
Unterstützt internationale EMV-Standards, darunter IEC/EN 61000-4-6, IEC/EN 61000-4-39, ISO 11452-4, MIL-STD-461G CS114 und DO-160G

✔ Grosser Frequenzbereich
Deckt 4 kHz bis 1 GHz ab – ideal für kommerzielle und militärische EMV-Prüfungen

✔ Integrierte Leistungsmessung
Präzise Signalstärkemessung mit internen und externen Leistungsmessern

✔ Flexible Verstärkeroptionen
Unterstützt interne Verstärker-Upgrades und externe Hochleistungsverstärker

✔ EUT-Überwachung in Echtzeit
Mehrere Überwachungsschnittstellen zur Kontrolle des Prüflings während des Tests

✔ Eigenständiger Betrieb
Kann ohne externen PC betrieben werden

✔ Fernsteuerung
Integration in automatisierte Testsysteme via LAN, RS232 oder USB

✔ Effiziente Datenübertragung
Einfache Datenexport- und Berichterstellungsfunktionen über USB

✔ Software-Integration
Kompatibel mit icd.Control und CIS Software für intuitive Bedienung und Automatisierung

Verfügbare Produktversionen

(Weitere Leistungsklassen oder Upgrades auf Anfrage erhältlich.)

Zielgruppe

Der Teseq NSG 4070D ist ideal für Entwicklungsteams, EMV-Prüflabore und Qualitätssicherungsabteilungen in Branchen wie:

• Automobilindustrie – Prüfung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Fahrzeugsystemen
• Luft- und Raumfahrt – Sicherstellung der Einhaltung strenger EMV-Anforderungen
• Industrieelektronik – Sicherstellung der Störfestigkeit von Steuer- und Automatisierungssystemen
• Medizintechnik – Testen medizinischer Geräte auf EMV-Konformität
• Verbraucherelektronik – Optimierung der Störfestigkeit von Unterhaltungselektronik

LFCP-Kit für den NSG4070D, speziell zur Bewertung niedriger Frequenzen von 150 kHz bis 26 MHz gemäss der IEC 61000-4-39-Norm

Die IEC 61000-4-39 ist eine Norm aus der IEC 61000-Reihe zur elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV) und befasst sich mit der Immunität von elektronischen Geräten gegenüber elektromagnetischen Feldern im Frequenzbereich von 9 kHz bis 6 GHz.

Zweck der Norm

Der Test gemäss IEC 61000-4-39 simuliert elektromagnetische Störungen durch nahfeldinduzierte Hochfrequenzfelder, die von Geräten wie RFID-Systemen, drahtlosen Ladegeräten oder anderen Funkquellen verursacht werden. Ziel ist es, sicherzustellen, dass elektronische Geräte unter realen Bedingungen zuverlässig funktionieren und nicht durch solche Felder gestört werden.

Typische Anwendungen

Diese Norm ist besonders relevant für:

• Medizinische Geräte (z. B. Herzschrittmacher, medizinische Monitore)
• Industrieelektronik
• Automobiltechnik (z. B. Bordelektronik mit drahtlosen Ladesystemen)
• IT- und Kommunikationsgeräte

Testverfahren nach IEC 61000-4-39

Die Prüfung erfolgt mit einer Nahfeldsonde oder einem Nahfeldkoppler, der ein kontrolliertes elektromagnetisches Feld erzeugt. Der Test prüft:

1. Magnetische Feldkopplung (im unteren Frequenzbereich)
2. Elektrische Feldkopplung (bei höheren Frequenzen)

Das Gerät unter Test (EUT) wird dabei verschiedenen Feldstärken und Frequenzen ausgesetzt, um seine Widerstandsfähigkeit zu bewerten.

Unterschied zu IEC 61000-4-6

Während IEC 61000-4-6 leitungsgebundene HF-Störungen über Kabel testet, konzentriert sich IEC 61000-4-39 auf freistrahlende Nahfeldstörungen, die typischerweise von drahtlosen Technologien ausgehen. Beide Tests können mit dem entsprechenden Zubehör problemlos mit dem NSG4070D Generator durchgeführt werden

Laden Sie dazu auch unsere Broschüre zu IEC 61000-4-39 herunter

Zubehör

Passendes Zubehör zum Teseq NSG 4070D finden Sie in der Broschüre unter Downloads.

Downloads

Teseq NSG 4070D HF Generator Brochure EN

IEC 61000-4-39 with NSG 4070D EN

Webinaraufzeichnung: Leitungsgebundene Hochfrequenzstörungen nach IEC 61000-4-6

Das Webinar „Leitungsgebundene RF nach IEC 61000-4-6“ gibt einen detaillierten Überblick über die Störfestigkeitsprüfung elektronischer Geräte gegenüber hochfrequenten leitungsgebundenen Störungen gemäss der Norm IEC 61000-4-6. Im Folgenden finden Sie eine Zusammenfassung der behandelten Inhalte:

• Phänomen und Einfluss auf elektronische Systeme: Zu Beginn wird erläutert, wie hochfrequente Störungen über Leitungen in elektronische Geräte gelangen und welche Auswirkungen dies auf deren Funktion haben kann.
• Prüfpegel und deren Anwendung: Die verschiedenen Prüfpegel der IEC 61000-4-6 werden vorgestellt und erläutert, wie sie auf unterschiedliche Geräte angewendet werden können, um die EMV-Anforderungen zu erfüllen.
• Prüfgeneratoren und Koppelelemente: Das Webinar erklärt die Funktion und den Einsatz verschiedener Prüfgeneratoren und Koppelelemente, die für die Durchführung leitungsgebundener RF-Prüfungen genutzt werden.
• Prüfaufbau, Kalibrierung und Testdurchführung: Es werden wertvolle Hinweise zum Aufbau des Teststandes, zur Kalibrierung der Messgeräte sowie zur ordnungsgemässen Durchführung der Prüfungen gegeben, um präzise und reproduzierbare Ergebnisse zu erzielen.
• Spezielle Aspekte von EM Clamp und BCI Stromzangen: Das Webinar geht zudem auf den Einsatz von EM Clamp und BCI Stromzangen in der leitungsgebundenen RF-Prüfung ein und zeigt, wie diese Messmittel korrekt genutzt werden.
• Praktische Tipps für die Prüfung: Abschliessend erhalten Teilnehmer wertvolle Tipps und bewährte Methoden, um leitungsgebundene RF-Tests effizienter und präziser durchzuführen.

Dieses Webinar bietet einen umfassenden Einblick in die leitungsgebundene Störfestigkeitsprüfung gemäss IEC 61000-4-6 und richtet sich an Ingenieure und Techniker, die in der EMV-Prüfung tätig sind.

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