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EMV Messgeräte / Leitungsgebundene Immunität

EM Test LD 200N

Load Dump Generator

Die EM Test LD 200N Series simuliert Leitungsstörungen präzise und normkonform. Sie bietet flexible Prüfszenarien, hohe Wiederholgenauigkeit und ermöglicht realitätsnahe Tests für zuverlässige EMV-Validierung im Automotive Bereich.

Technische Highlights

Load‐Dump‐Generator: gemäss ISO 7637‐2, ISO 16750‐2, SAE J1113/J1455
Pulsparameter: Pulsdauer bis 1200 ms, Quellimpedanz 0.5–38 Ω in 0.1 Ω‐Schritten, Clipping‐Funktion
Integrierter Koppelkondensator 80 V / 30 A DC, erweiterbar bis 100 A DC, USB & GPIB

User Highlights

✓ Realistische Automotive‐Tests
✓ Hohe Flexibilität: Freestyle‐Mode
✓ Kompakt & effizient: Standalone‐Betrieb

Auf Anfrage

Anwendungsgebiete:

Automobilindustrie & Bahntechnik
Industrie und Automation
Industrieelektronik / Maschinenbau
Prüflabore und Zertifizierungsstellen
Energietechnik

Die EM Test LD 200N Series ist eine spezialisierte Lösung für Prüfungen der leitungsgebundenen Immunität im Automotive Umfeld. Sie dient der präzisen Simulation von Störungen auf Leitungen und ermöglicht realitätsnahe Tests unter kontrollierten Bedingungen.

Das System unterstützt relevante Normen und ermöglicht die gezielte Erzeugung typischer Störsignale, wie sie in Fahrzeugbordnetzen auftreten. Dadurch können elektronische Steuergeräte und Komponenten unter praxisnahen Bedingungen geprüft werden.

Ein zentraler Vorteil der LD 200N Series ist die hohe Flexibilität bei der Konfiguration von Prüfabläufen. Unterschiedliche Störszenarien können individuell definiert und automatisiert ausgeführt werden. Dies gewährleistet eine effiziente Durchführung auch komplexer Testreihen.

Dank der präzisen Signalsteuerung bietet das System eine hohe Wiederholgenauigkeit. Dies ist entscheidend für Vergleichstests und die Validierung von Entwicklungsergebnissen. Gleichzeitig werden reproduzierbare Messbedingungen sichergestellt.

Typische Anwendungsbereiche sind:

• Simulation leitungsgebundener Störungen im Automotive Bereich

• EMV Immunitätstests nach internationalen Normen

• Pre Compliance Prüfungen während der Entwicklung

• Validierung elektronischer Steuergeräte

Die Integration in bestehende Prüfsysteme ist einfach und ermöglicht automatisierte Testprozesse. In Kombination mit weiterer Messtechnik entstehen leistungsfähige Prüfaufbauten für umfassende EMV Analysen.

Die EM Test LD 200N Series bietet eine zuverlässige Grundlage für strukturierte und normgerechte Prüfungen. Sie unterstützt Unternehmen dabei, Schwachstellen frühzeitig zu erkennen und die Robustheit ihrer Produkte gezielt zu verbessern.

Technische Eigenschaften und Leistungsmerkmale dieses Produkts.

Spezifikation	Wert
Spannungsbereich	20 bis 200 V ±10 %
Anstiegszeit	5 bis 10 ms
Impulsdauer	40 bis 400 ms (bis 1200 ms im Freestyle)
Innenwiderstand	0.5 bis 38 Ohm (0.1 Ohm Schritte)
Clipping-Spannung	15 bis 99.5 V
Polarität	positiv / negativ
Wiederholrate	15 bis 999 s
Ausgangskoppler	80 V / 30 A (erweiterbar bis 100 A)
Normen	ISO 7637-2 / ISO 16750-2 / SAE J1113 / SAE J1455 / JASO
Schnittstellen	USB / GPIB