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Thermografie / Universitäten und Hochschulen

FLIR X6980

Hochgeschwindigkeits-MWIR-Kamera für die Wissenschaft

Die FLIR X6980 Serie bietet ultraschnelle Hochleistungs Thermografie mit aussergewöhnlicher Bildrate und ermöglicht präzise Analyse extrem schneller Prozesse für anspruchsvolle Anwendungen in Forschung, Entwicklung und Hochgeschwindigkeitsmesstechnik.
Technische Highlights
  • R&D
  • Auflösung: 640 × 512
  • 17 mm, 25 mm, 50 mm, 100 mm, 200 mm
User Highlights
  • Ideal für High‑Speed‑Tests & wissenschaftliche Anwendungen
  • Präzise Synchronisation & Triggering für komplexe Testaufbauten
  • Erweiterbares Optik‑ und Filterkonzept für maximale Flexibilität
Auf Anfrage
Anwendungsgebiete:
  • Forschung und Entwicklung
  • Elektronikentwicklung
  • Universitäten und Hochschulen
  • Industrieanlagen und Produktion
  • Instandhaltung
FLIR X6980

Die FLIR X6980 Serie ist eine Hochgeschwindigkeits Thermografiekamera für anspruchsvolle Anwendungen in Forschung und Entwicklung. Sie wurde speziell entwickelt, um extrem schnelle thermische Prozesse mit hoher Präzision sichtbar zu machen.

Die Kamera basiert auf einer leistungsfähigen Quantendetektor Technologie, die eine aussergewöhnlich hohe Bildrate ermöglicht. Dadurch können selbst sehr schnelle Temperaturveränderungen detailliert erfasst und analysiert werden. Dies ist entscheidend für Anwendungen, bei denen klassische Thermografie an ihre Grenzen stösst.

Ein zentraler Vorteil der FLIR X6980 Serie ist die Kombination aus Geschwindigkeit und Bildqualität. Trotz hoher Aufnahmefrequenz liefert die Kamera klare und präzise Messdaten. Dies ermöglicht eine fundierte Analyse dynamischer Prozesse und unterstützt die Weiterentwicklung komplexer Systeme.

Die flexible Systemarchitektur erlaubt eine Anpassung an unterschiedliche Anforderungen. Verschiedene Aufnahmemodi und Analyseoptionen stehen zur Verfügung, um spezifische Messaufgaben optimal umzusetzen.

Typische Anwendungsbereiche sind:

  • Analyse von Hochgeschwindigkeitsprozessen in der Forschung
  • Untersuchung thermischer Effekte in der Materialentwicklung
  • Entwicklung und Prüfung von elektronischen Komponenten
  • Wissenschaftliche Anwendungen mit hohen Anforderungen an Zeitauflösung

Die Integration der FLIR X6980 Serie in bestehende Messsysteme erfolgt effizient. Umfangreiche Auswertungsmöglichkeiten unterstützen eine detaillierte Interpretation der Messdaten.

Mit ihrer hohen Geschwindigkeit und Präzision ist die FLIR X6980 Serie eine spezialisierte Lösung für Anwendungen, bei denen extrem schnelle thermische Vorgänge exakt erfasst werden müssen.

Technische Eigenschaften und Leistungsmerkmale dieses Produkts.

Spezifikation Wert
Gerätetyp High‑Speed MWIR Forschungskamera (X‑Series)
IR Auflösung 640 × 512 Pixel
Detektortyp Gekühlter InSb Detektor
Spektralbereich ca. 1.5–5.0 µm (MWIR)
Detektor Pitch 25 µm
Thermische Empfindlichkeit NETD ~20 mK
Bildfrequenz bis ca. 1004 Hz (Full Frame, >29’000 Hz Subwindow)
Integration Time ab ca. 270 ns bis Full Frame
Temperaturmessbereich ca. −20 °C bis 300 °C (optional bis ~3000 °C)
Schnittstellen 10 GigE / CoaXPress / Camera Link / HDMI / SDI / USB
FLIR X6980

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Daniel Böringer · Senior Consultant